2
4
3
5
8
6
1
7

Mikroskop VT-STM UHV z głowicą RHK Beetle. Mikroskop umożliwia obrazowanie topografii powierzchni przewodzących próbek z rozdzielczością sięgającą pojedynczych atomów. Możliwe jest również przeprowadzenie pomiarów spektroskopowych (STS) niosących informacje o lokalnej strukturze elektronowej próbki przez pomiar obsadzonych i nieobsadzonych stanów elektronowych blisko powierzchni Fermiego.

 

PARAMETRY PRACY

Obrazowanie niskoprądowe

poniżej 1 pA przy szerokości pasma 5 kHz (LV)

Szybkość skanowania

do 3 sek/obraz

Maksymalny zakres skanowania w płaszczyźnie XY

5 μm × 5 μm

Maksymalna rozdzielczość

0,5 Å (X, Y) i 0,1 Å (Z)

Dryf termiczny

poniżej 1 Å/min

Pofałdowanie skanowanej powierzchni nierówności do 100 nm (Z)
Maksymalna średnica próbki 10 mm
Grzanie próbki do 1500 K
Chłodzenie LN2 Minimalna temperatura: 100 K
Chłodzenie LHe Minimalna temperatura: 40 K

STM 1

Osoba kontaktowa: dr Michał Jurczyszyn, tel. +48 12 617 25 44