3
1
6
2
8
7
4
5

Rozszerzenie systemu próżniowego mikroskopu STM stanowi komora preparatyki próbek w standardzie UHV, w której możliwe jest:

  1. Uzyskanie czystej atomowo powierzchni
  2. Atomowo czysta powierzchnia próbki może być otrzymana poprzez:

    • łupanie w ultrawysokiej próżni (10-11 mbar) próbki w różnych temperaturach
    • wygrzewanie do temperatury 1200 oC
    • oczyszczanie jonami Ar+

    PARAMETRY DZIAŁA JONOWEGO

    Zakres energii 0.12 - 5 keV
    Maksymalna gęstość prądu ok. 10 μA/cm2
  3. Wytwarzanie próbek
  4. Wytwarzanie nowych próbek odbywa się poprzez napylanie pojedynczych warstw atomowych (lub układów wielowarstwowych) wybranych materiałów na wcześniej przygotowanym podłożu. Cienkie warstwy są osadzane z wiązek molekularnych, których źródłem są komórki efuzyjne. Ilość naniesionego materiału jest precyzyjnie kontrolowana za pomocą mikrowagi kwarcowej (QCM). Przykładowe materiały, które można nanosić w naszym laboratorium to złoto, mangan, żelazo, ołów, kobalt. 

    DOSTĘPNE ŹRÓDŁA EMISJI PAR

      Home-made PREVAC EBV 40A1
    Rodzaj źródła rezystywne elektronowe
    Liczba komórek efuzyjnych 3 1
    Sposób rozgrzewania materiału tygiel pręt/tygiel
    Rodzaj przesłony manualna manualna

     

  5. Charakteryzacja powierzchni

Powierzchnia może być charakteryzowana techniką dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) oraz spektroskopii elektronów Auger’a (AES). Przygotowana i scharakteryzowana próbka może zostać przetransportowana in-situ do komory mikroskopu w celu przeprowadzenia pomiarów STM/STS.

  • LEED/AES – spektrometr OMICRON SPECTRALEED z polem hamującym (RFA)

Spektrometr pozwala na prowadzenie zarówno pomiarów dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) jak i spektroskopii elektronów Auger’a (AES). Tryb LEED stosowany jest  do analizy struktury krystalicznej powierzchni. Badana powierzchnia bombardowana jest skolimowaną wiązką elektronów o energii najczęściej z przedziału 20 – 300 eV. Na ekranie fluorescencyjnym obserwowany jest obraz dyfrakcyjny. W trybie AES dokonywana jest analiza składu chemicznego powierzchni poprzez pomiar widma energii elektronów Auger’a. 

PARAMETRY PRACY SPEKTROMETRU

 Tryb pracy LEED AES
Prąd emisji  0 - 50 μA 0 - 50 μA
Energia wiązki 0 - 1000 eV 0 - 3.5 keV

STM 2

Osoba kontaktowa: dr Michał Jurczyszyn, tel. +48 12 617 25 44