Za pomocą układu Nanometer 2.0 wyposażonego w uchwyt kompatybilny m. in. z systemem pomiarowym Nanonis Tramea, możliwe jest wykonanie pomiaru oporu i charakterystyki prądowo-napięciowej urządzeń bazujących na pojedynczych nanodrutach półprzewodnikowych metodą czteropunktową. Konstrukcja uchwytu umożliwia podłączenie dodatkowego źródła prądowego, służącego do lokalnego podgrzania badanej nanostruktury.