Urządzenie służy do nanoszenia cienkich warstw węglowych na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej i cieplnej próbek badanych w SEM, nośników próbek TEM oraz stosowanych przy ekstrakcji replik do badań (S)TEM.
PARAMETRY PRACY |
|
---|---|
Prędkość obrotowa stolika |
8 - 20 obr/min |
Min. grubość napylanej warstwy |
1 nm |
Urządzenie monitorujące grubość napylanej warstwy |
Kryształ kwarcu |
Osoba kontaktowa:

Napylarka Q150T E

Napylarka Q150T E