Urządzenie służy do nanoszenia cienkich warstw węglowych na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej i cieplnej próbek badanych w SEM, nośników próbek TEM oraz stosowanych przy ekstrakcji replik do badań (S)TEM.
|
PARAMETRY PRACY |
|
|---|---|
|
Prędkość obrotowa stolika |
8 - 20 obr/min |
|
Min. grubość napylanej warstwy |
1 nm |
|
Urządzenie monitorujące grubość napylanej warstwy |
Kryształ kwarcu |
Osoba kontaktowa:
Napylarka Q150T E
Napylarka Q150T E
