Urządzenie służy do nanoszenia cienkich warstw węglowych na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej i cieplnej próbek badanych w SEM, nośników próbek TEM oraz stosowanych przy ekstrakcji replik do badań (S)TEM.

PARAMETRY PRACY

Prędkość obrotowa stolika

8 - 20 obr/min

Min. grubość napylanej warstwy

1 nm

Urządzenie monitorujące grubość napylanej warstwy

Kryształ kwarcu

Osoba kontaktowa:

Dr inż. Katarzyna Berent

    
Napylarka Q150T E
    
Napylarka Q150T E