PARAMETRY PRACY

Zakres analizowanych pierwiastków

Be - U (Z = 4 – 92)

Parametry źródła rentgenowskiego

lampa Rh 4 kW

napięcie przyspieszające: 60 kV

maksymalny natężenie prądu wiązki elektronowej: 150 mA

automatyczna funkcja wygrzewania lampy

lampa rentgenowska umieszczona nad analizowaną próbką,umożliwiająca bezpośredni (bez okienek) pomiar próbek ciekłych

Układ wiązki pierwotnej

automatyczny system osłabiania wiązki

możliwość wyboru filtra wiązki pierwotnej (dostępne cztery filtry (Al-125, Al-25, Ni-40, Ni-400)

sześciopozycyjny zmieniacz kolimatorów (35, 30, 20, 10, 1 oraz 0.5 mm)

Układ próbek

automatyczny zmieniacz próbek  (48 pozycji)

możliwość obrotu próbki podczas pomiaru

hermetyczna komora umożliwiająca pomiar próbek proszkowych i ciekłych w atmosferze helu

możliwość prowadzenia pomiaru przy ustalonym kącie

Układ analizatora i detekcji

automatyczny zmieniacz kryształów analizujących

8 kryształów analizujących umożliwiających pomiar w zakresie B – U:

LiF(200) : 22Ti-92U
PET: 13Al-21Sc
Ge: 15P-21Sc
RX-25: 9F-12Mg
RX-35: 8O-12Mg
RX-40: 7N-8O
RX-61: 5B-6C
LiF(220): kryształ współpracujący z licznikiem scyntylacyjnym

detektor proporcjonalny i scyntylacyjny

system mapowania (pomiar punktowy) wraz z kamerą CCD

 

Możliwości pomiarowe

  • prowadzenie analiz jakościowej (szybkiej) i ilościowej (krokowej i ciągłej)
  • korekty teoretyczne oraz teoretyczno-empiryczne, w tym: wygładzanie pików oraz korekcja tła, korekta koindydencji pików, dekonwolucja pików, automatyczna korekcja na nierówności powierzchni mierzonej próbki,
  • prowadzenie analiz bezwzorcowych
  • pomiar przy ustalonym kącie
  • możliwość analizy składu próbek stałych, ciekłych, stopów oraz cienkich warstw

 

Osoby kontaktowe:

prof. dr hab. Konrad Szaciłowski

dr inż. Krzysztof Mech

    
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV