Measuring compositions in organic depth profiling: results from a VAMAS interlaboratory study

A. G. Shard, R. Havelund, S. J. Spencer, I. S. Gilmore, M. R. Alexander, T. B. Angerer, S. Aoyagi, J.-P. Barnes, A. Benayad, A. Bernasik, G. Ceccone, J. D. P. Counsell, C. Deeks, J. S. Fletcher, D. J. Graham, C. Heuser, T. G. Lee, C. Marie, M. M. Marzec, G. Mishra, D. Rading, O. Renault, D. J. Scurr, H. K. Shon, V. Spampinato, H. Tian, F. Wang, N. Winograd, K. Wu, A. Wucher, Y. Zhou, Z. Zhu
Journal of Physical Chemistry B 119, 10784-10797 (2015)
tekst: http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcb.5b05625