Urządzenie do badania twardości oraz modułu Younga w skali nanometrowej, o zakresie obciążeń do 9.8 N (w trybie High load). Wyposażone w moduł CSM (Continous Stiffness Measurement) pozwalający na ciągły pomiar modułu Younga oraz twardości w funkcji głębokości od powierzchni. Pozwala na wykonanie Scratch testów w skali nanometrycznej wraz z pomiarem współczynnika tarcia dzięki modułowi lateral force. Urządzenie pozwala na obrazowanie topografii powierzchni materiałów, a także efektów oddziaływania wgłębnika z materiałem. Wykonuje pomiary zgodne z normą ISO 14577. Pozwala na badanie wpływu prędkości odkształcenia na ww. parametry.
|
PARAMETRY PRACY |
|
|---|---|
|
Wgłębniki: Vickersa i Berkovicha |
|
|
Obciążenie do 9.8 N |
Moduł CSM |
|
Rozdzielność pomiaru przemieszczenia < 1 nm |
Moduł high load |
|
Rozdzielczość pomiaru siły < 50 nN |
Automatyczny stolik |
|
Pomiary zgodne z PN-EN ISO 14577 |
|