Urządzenie służy do nanoszenia cienkich warstw węglowych na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej i cieplnej próbek badanych w SEM, nośników próbek TEM oraz stosowanych przy ekstrakcji replik do badań (S)TEM.
PARAMETRY PRACY
|
Prędkość obrotowa stolika
|
8 – 20 obr/min
|
Min. grubość napylanej warstwy
|
1 nm
|
Urządzenie monitorujące grubość napylanej warstwy
|
Kryształ kwarcu
|
Osoba kontaktowa:
dr inż. Katarzyna Berent
[lightbox class=”panel-light-box text-center” type=”image” src=”images/Laboratoria/04/napylarka/1.jpg”] [photo_panel background=”#F0F0F0″ border=”1px solid #dadada” photo=”images/Laboratoria/04/napylarka/1.jpg”]Napylarka Q150T E[/photo_panel][/lightbox] [lightbox class=”panel-light-box text-center” type=”image” src=”images/Laboratoria/04/napylarka/2.jpg”] [photo_panel background=”#F0F0F0″ border=”1px solid #dadada” photo=”images/Laboratoria/04/napylarka/2.jpg”]Napylarka Q150T E[/photo_panel][/lightbox]