Spektrofotometr UV-Vis Thermo Scientific Evolution 220 jest urządzeniem przeznaczonym do pomiarów absorbcji promieniowania elektromagnetycznego z zakresu widzialnego oraz bliskiego i średniego nadfioletu w próbkach ciekłych. Pomiary spektrofotometryczne znajdują zastosowanie w analizie ilościowej (wyznaczanie stężeń różnych substancji organicznych i nieorganicznych), jakościowej, badaniach fizykochemicznych (np. do badań kinetycznych), a także do badań strukturalnych. Będąca dodatkowym wyposażeniem spektrometru programowalna przystawka temperaturowa z ogniwem Peltiera rozszerza możliwości spektrometru o wykonywanie pomiarów w precyzyjnie ustalonych temperaturach z zakresu 0-110oC, a także badanie zależności temperaturowych.
W poniższej tabeli zestawiono podstawowe właściwości posiadanego spektrometru:
| Płaskość linii bazowej | ±0.0010A w zakresie 200-800nm przy szczelinie 1.0nm z wygładzaniem |
| Odstęp zbierania danych | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1nm |
| Typ detektora | Podwójna fotodioda krzemowa |
| Stałość sygnału | <0.0005A/h przy 500nm, szczelinie 1.0nm, po 1-godzinnym nagrzaniu |
| Źródło światła | Ksenonowa lampa błyskowa |
| Szum fotometryczny | 0A: <0.00015A; 1A: <0.00025A; 2A: <0.00080A; RMS przy 260nm, 1 nm |
| Układ optyczny |
Dwuwiązkowy, z osobnymi pozycjami dla próbki i odnośnika, Monochromator typu Czernego-Turnera Geometria wiązki dopasowywana do zastosowania |
| Dokładność fotometryczna | 1A: ±0.006A 2A: ±0.010A Mierzona przy 440nm za pomocą filtra neutralnego spójnego z NIST |
| Zakres wyświetlany | -0.3 to 4.0A |
| Zakres fotometryczny | >3.5A |
| Powtarzalność fotometryczna | ±0.0002A |
| Tryby pomiaru | Absorbancja, % Transmitancji, % Reflektancji, Kubelka-Munk, log (1/R), log (Abs), Abs*Czynnik, Intensywność |
| Szybkość skanowania | Zmienna, <1-6000nm/min |
| Szerokość szczeliny | Zmienna: 1.0nm; 2.0nm; dopasowana do zastosowania: mikrokuweta; światłowód; pomiary odbiciowe |
| Dokładność długości fali | ±0.5nm (dla linii rtęci 541.9 i 546.1nm), ±0.8nm (w pełnym zakresie roboczym – 190 to 1100nm) |
| Zakres długości fali | 190 – 1100nm |
| Powtarzalność długości fali | ≤0.05nm (linia rtęci 546.11nm, SD z 10 pomiarów) |
Opiekun urządzenia: dr Dorota Lachowicz