Rozszerzenie systemu próżniowego mikroskopu STM stanowi komora preparatyki próbek w standardzie UHV, w której możliwe jest:
- Uzyskanie czystej atomowo powierzchni
- łupanie w ultrawysokiej próżni (10-11 mbar) próbki w różnych temperaturach
- wygrzewanie do temperatury 1200 oC
- oczyszczanie jonami Ar+
- Wytwarzanie próbek
- Charakteryzacja powierzchni
Atomowo czysta powierzchnia próbki może być otrzymana poprzez:
PARAMETRY DZIAŁA JONOWEGO |
|
---|---|
Zakres energii | 0.12 – 5 keV |
Maksymalna gęstość prądu | ok. 10 μA/cm2 |
Wytwarzanie nowych próbek odbywa się poprzez napylanie pojedynczych warstw atomowych (lub układów wielowarstwowych) wybranych materiałów na wcześniej przygotowanym podłożu. Cienkie warstwy są osadzane z wiązek molekularnych, których źródłem są komórki efuzyjne. Ilość naniesionego materiału jest precyzyjnie kontrolowana za pomocą mikrowagi kwarcowej (QCM). Przykładowe materiały, które można nanosić w naszym laboratorium to złoto, mangan, żelazo, ołów, kobalt.
DOSTĘPNE ŹRÓDŁA EMISJI PAR |
||
---|---|---|
Home-made | PREVAC EBV 40A1 | |
Rodzaj źródła | rezystywne | elektronowe |
Liczba komórek efuzyjnych | 3 | 1 |
Sposób rozgrzewania materiału | tygiel | pręt/tygiel |
Rodzaj przesłony | manualna | manualna |
Powierzchnia może być charakteryzowana techniką dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) oraz spektroskopii elektronów Auger’a (AES). Przygotowana i scharakteryzowana próbka może zostać przetransportowana in-situ do komory mikroskopu w celu przeprowadzenia pomiarów STM/STS.
- LEED/AES – spektrometr OMICRON SPECTRALEED z polem hamującym (RFA)
Spektrometr pozwala na prowadzenie zarówno pomiarów dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) jak i spektroskopii elektronów Auger’a (AES). Tryb LEED stosowany jest do analizy struktury krystalicznej powierzchni. Badana powierzchnia bombardowana jest skolimowaną wiązką elektronów o energii najczęściej z przedziału 20 – 300 eV. Na ekranie fluorescencyjnym obserwowany jest obraz dyfrakcyjny. W trybie AES dokonywana jest analiza składu chemicznego powierzchni poprzez pomiar widma energii elektronów Auger’a.
PARAMETRY PRACY SPEKTROMETRU |
||
---|---|---|
Tryb pracy | LEED | AES |
Prąd emisji | 0 – 50 μA | 0 – 50 μA |
Energia wiązki | 0 – 1000 eV | 0 – 3.5 keV |
Osoba kontaktowa: dr Michał Jurczyszyn, tel. +48 12 617 25 44