Mikroskop VT-STM UHV z głowicą RHK Beetle. Mikroskop umożliwia obrazowanie topografii powierzchni przewodzących próbek z rozdzielczością sięgającą pojedynczych atomów. Możliwe jest również przeprowadzenie pomiarów spektroskopowych (STS) niosących informacje o lokalnej strukturze elektronowej próbki przez pomiar obsadzonych i nieobsadzonych stanów elektronowych blisko powierzchni Fermiego.
|
PARAMETRY PRACY |
||
|---|---|---|
|
Obrazowanie niskoprądowe |
poniżej 1 pA przy szerokości pasma 5 kHz (LV) |
|
|
Szybkość skanowania |
do 3 sek/obraz |
|
|
Maksymalny zakres skanowania w płaszczyźnie XY |
5 μm × 5 μm |
|
|
Maksymalna rozdzielczość |
0,5 Å (X, Y) i 0,1 Å (Z) |
|
|
Dryf termiczny |
poniżej 1 Å/min |
|
| Pofałdowanie skanowanej powierzchni | nierówności do 100 nm (Z) | |
| Maksymalna średnica próbki | 10 mm | |
| Grzanie próbki | do 1500 K | |
| Chłodzenie LN2 | Minimalna temperatura: 100 K | |
| Chłodzenie LHe | Minimalna temperatura: 40 K | |
Osoba kontaktowa: dr Michał Jurczyszyn, tel. +48 12 617 25 44