N. Daffé, J. Zečević, K.N. Trohidou, M. Sikora, M. Rovezzi, C. Carvallo, M. Vasilakaki, S. Neveu, J.D. Meeldijk, N. Bouldi, V. Gavrilov, Y. Guyodo, F. Choueikani, V. Dupuis, D. Taverna, P. Sainctavit, A. Juhin
Nanoscale 12, 11222-11231 (2020)
tekst: https://doi.org/10.1039/D0NR02023K
linia badawcza: V