P. A. Krawczyk, M. Jurczyszyn, J. Pawlak, W. Salamon, P. Baran, A. Kmita, Ł. Gondek, M. Sikora, C. Kapusta, T. Strączek, J. Wyrwa, A. Żywczak
ACS Applied Electronic Materials 2, 3211-3220 (2020)
tekst: https://doi.org/10.1021/acsaelm.0c00559
zakład: ZEKN, ZMFiN