Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem). Osoba kontaktowa: dr inż. Antoni… Czytaj więcej »Profilometr igłowy Bruker DektakXT
Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC).… Czytaj więcej »Mikroskop metalograficzny NIKON ECLIPSE LV150N
W pomieszczeniu czystym klasy 100 znajduje się urządzenie do litografii elektronowej (Raith eLine+). Układ przede wszystkim składa się z działa elektronowego, detektora elektronów wtórnych, detektora in-lens, interferometru… Czytaj więcej »Zespół pomieszczeń czystych wyposażony w aparaturę do procesów litografii elektronowej i trawienia jonowego (rozdzielczość 10 nm)
System umożliwia wytwarzanie cienkich warstw o określonym składzie stechiometrycznym lub przesyconym o grubości od kilku nanometrów do paru mikrometrów, na różnorodnych podłożach (metalicznych, polimerowych i… Czytaj więcej »Pulsed Laser Deposition