Laboratorium Mikroskopii Sił Atomowych

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR

by acmin_admin
23 stycznia, 202018 marca, 2021

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie… Czytaj więcej »Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR

Profilometr igłowy Bruker DektakXT

by acmin_admin
18 października, 201618 marca, 2021

Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem). Dodatkowo umożliwia wykonanie mapowania powierzchni… Czytaj więcej »Profilometr igłowy Bruker DektakXT

Laboratorium Mikroskopii Sił Atomowych

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR

Profilometr igłowy Bruker DektakXT

Komisja ds. Nagród Rektorskich

Kolegium ACMiN (kadencja 2020-2024)