Układ dwóch nanomanipulatorów typu miBot firmy IMINa, kompatybilny ze skanningowym mikroskopem elektronowo-jonowym VERSA 3D. Układ ten pozwalana pomiary oporu in-situ w trakcie procesu nanostrukturyzacji oraz… Czytaj więcej »Układ nanomanipulatorów miBot firmy IMINA do skaningowego mikroskopu elektronowego
Polerka jonowa Hitachi IM4000Plus jest urządzeniem służącym do precyzyjnego polerowania powierzchni płaskich jak również do wykonywania przekrojów poprzecznych materiałów metalicznych, ceramicznych i polimerów. Urządzenie umożliwia… Czytaj więcej »Zestaw do polerowania jonowego powierzchni płaskich oraz wykonywania przekrojów poprzecznych ciał stałych
Urządzenie służy do nanoszenia cienkich warstw węglowych na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej i cieplnej próbek badanych w SEM, nośników próbek TEM… Czytaj więcej »Napylarka wysokopróżniowa Q150T E firmy Quorum Technologies
Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC).… Czytaj więcej »Mikroskop metalograficzny NIKON ECLIPSE LV150N
Versa 3D jest wysokorozdzielczym dwuwiązkowym skaningowym mikroskopem elektronowym wyposażonym w działo elektronowe z emisją polową (Field Emission Gun – FEG) oraz jonowe (Focused Ion Beam… Czytaj więcej »Skaningowy mikroskop elektronowy Versa 3D (FEI)